Расчет надежности схемы
Данное устройство содержит большое количество элементов и соединений, которые потенциально могут оказаться причиной отказа всего устройства в целом. Поэтому необходимо рассчитать надежность устройства, учитывая все эти элементы. Для удобства расчетов все эти элементы сведены в таблицу.
|
Таблица | |||
|
№ п/п |
Элементы схемы, подлежащие расчету |
Количество, шт |
Значение интенсивности отказов l, 1/ч |
|
1 |
Германиевые транзисторы |
2 |
0,6·10-6 |
|
2 |
Интегральные микросхемы |
1 |
2,5·10-6 |
|
3 |
Керамические монолитные конденсаторы |
9 |
0,44·10-6 |
|
4 |
Контактные площадки |
178 |
0,02·10-6 |
|
5 |
Кремниевые диоды |
2 |
2,5·10-6 |
|
6 |
Кремниевые транзисторы |
7 |
0,3·10-6 |
|
7 |
Металлодиэлектрические резисторы |
30 |
0,04·10-6 |
|
8 |
Отверстия |
197 |
0,0001·10-6 |
|
9 |
Пайки |
178 |
1·10-6 |
|
10 |
Переменные пленочные резисторы |
3 |
4·10-6 |
|
11 |
Печатная плата |
1 |
0,0005·10-8 |
|
12 |
Пленочные подстроечные резисторы |
1 |
2·10-6 |
|
13 |
Проводники |
68 |
0,005·10-6 |
|
14 |
Разъемы |
2 |
2,5·10-6 |
|
15 |
Электролитические конденсаторы |
14 |
1,1·10-6 |
Интенсивность отказов всей схемы можно рассчитать по формуле:
|
L=åln·Nn |
Немного больше о технологиях >>>
Об ориентационной поляризации спиновых систем
В
одной из наших предыдущих статей, посвященных термодинамике спиновых систем,
была выявлена несостоятельность попыток свести к теплообмену процессы
установления единой ориентации противоположно направленных ядерных спинов [1].
Несколько позднее было показано, что процессы упор ...
Система качественных показателей для оценки достижения идеальности ТС
Общая структура Технической Системы:
ЗАТРАТЫ (вход) - ТС (процессор) - ГПФ
(выход)
Идеал ТС: Достижение ГПФ при сумме затрат
стремящейся к нулю.
...
